低总有机碳(TOC)测定的样品瓶准备准则

目的
美国药典USP 23要求,对于纯化水(PW)和注射用水(WFI),应使用总有机碳(TOC)含量测定替代易氧化物测试。为支持使用自动进样器在实验室检测TOC,最小化并去除来自样品瓶及样品准备过程的背景碳,非常关键。
适用范围
本文设计用于协助制药公司遵循水质量的建议规格,并检验了几种不同的样品瓶和玻璃器皿清洗方法。
在样品瓶中进行总碳分析时,背景污染可有多种不同的来源。最大的潜在背景碳含量来源之一,可以直接来自用于样品瓶漂洗和样品制备的水源。为了进行此测定,可使用Sievers®在线TOC分析仪直接检测水源中的总有机碳(TOC)含量。如果水源是商品瓶装水,则应从容器直接取样进行该分析。如果水源为实验室水系统,充注1升干净的玻璃烧瓶并从该烧瓶取样进行分析。表1显示了使用这些技术在Sievers分析仪上检测得到的结果。
表1 不同低TOC水及取样方法比较
当水转移到烧瓶和样品瓶内时很容易被污染,正如以上所示,Sievers分析仪检测结果显示,水转移到烧瓶中的TOC含量更高。如果可能的话,检验所选水源类型,以显示其具有稳定的低TOC。
污染的第二个主要来源可来自样品瓶和清洗步骤。为了测定TOC背景污染的初始程度,请使用强烈的清洗步骤。在科学界广泛使用的清洗实验室玻璃器皿的方法是铬酸溶液(Sievers分析仪技术方案914-80005),已经被从美国药典的实验室玻璃器皿清洗<1051>章中去除。使用该步骤清洗的样品瓶和其他玻璃器皿将获得较低的TOC背景污染。在获得较低的背景污染之后,需要慎重检验更温和的清洗步骤以获得同样的结果。这里所检验的腐蚀性最小的化学清洗步骤是CIP-100洗涤剂。作为清洗剂的替代方案,可使用马弗炉清洗玻璃器皿。马弗炉工艺需要的人工更少,但初始设备成本巨大。如表2所示,硫酸清洗、马弗炉和CIP-100洗涤剂清洗过程与铬酸清洗过程的结果相当。CIP-100洗涤剂的一个优点是只需要10次漂洗,而与之相比,其他清洗剂需要15或20次漂洗。Alconox实验室洗涤剂不建议作为低TOC工作的清洗剂。
表2 试管清洗的不同清洗方案比较
当表2中所使用的样品瓶,加入足够的苯醇醚(Octoxynol)(Triton X-100),形成当充满去离子水时50 ppm(以碳计)的溶液,这时的清洗是有挑战性的。使这些标准添加溶液在各样品瓶中干燥,然后进行各种清洗步骤。
当细菌污染成为问题时,微生物群落存在类似的情况。在这里开发了无菌化技术,以应对微生物工作中遇到的交叉污染问题。
此概念可部分适用于碳样品的制备。例如,适合碳样品制备的无菌化概念为:
避免直接触摸垫片、移液管、自动进样器针和其他与样品直接接触的设备;
制备样品时,避免对着它们呼吸;
避免采集前几毫升的样品流,采集样品前等待,直到一些液体经过并净化管道;
当将样品瓶载入自动进样器时避免接触覆盖样品瓶的隔膜。
第二种意见是仅使用新样品瓶进行TOC分析。这种做法费钱费力,因为这些新样品瓶需要进行15次漂洗的准备步骤。使用此方法获得的TOC值列在表3中。而另一种方法是购买制造商预清洗的样品瓶。然而此处列出的样品瓶,供应商没有直接检测其TOC,而是检测其挥发性有机化合物。因此,没有保证其最大TOC含量。这些预清洗的样品瓶充注Sievers低有机物去离子水,并在仪器上进行分析。结果如表4所示。
表3 新试管的漂洗与测试
表4 预清洁试管充满并测试
减小背景碳污染的第三步是遵守严格的制备技术。特别小心地处理与样品接触的试剂和设备,因为碳污染无处不在。
例如,储存在塑料袋中的垫片,如果手伸入内部时,可能受到残留的手纹油的污染。表5显示了使用故意被手纹直接污染的隔膜时更高的TOC含量。右列显示了在样品制备时上下表面皆有触摸的隔膜。碳污染量是样品制备时与脏手或表面接触程度的反映。
表5 样品制备时无菌相对非无菌化垫片触摸
结论
在样品制备的三个方面叙述了背景碳的潜在原因。要在低碳背景污染下获得稳定的TOC结果,水、样品瓶和样品制备方法都必须仔细地监控
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